LiSpec-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀是萊森光學(xué)（LiSen Optics）一款具有革命性寬光譜微型光譜儀，采用了進(jìn)口核心光譜模塊，控制電路采用獨(dú)有微處理技術(shù)，實(shí)現(xiàn)雙通道同步測(cè)量技術(shù)，真正意義上實(shí)現(xiàn)了200-2500nm全光譜測(cè)量，200-1000nm采用了2048像素面陣CMOS/BT-CCD探測(cè)器，紫外可見量子效率高85%，900-1700/900-2500nm采用了大靶面致冷或非致冷型256/512像元InGaAs 探測(cè)器，動(dòng)態(tài)范圍大、靈敏度高，同時(shí)采用獨(dú)有紅外熱像素漂移校準(zhǔn)，保證光譜在紅外波段受外界熱環(huán)境影響小，測(cè)試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定性。

LiSpec-UVIR系列光譜儀搭配積分球使用           LiSpec-UVIR系列光譜儀搭配余弦探頭使用

LiSpec-UVIR系列寬光譜紫外可見近紅外光譜儀可根據(jù)用戶應(yīng)用需求配置萊森光學(xué)不同的光學(xué)附件，透反射測(cè)量需要配置萊森光學(xué)的紫外增強(qiáng)鹵燈光源、光纖、準(zhǔn)直鏡頭、透射/反射積分球，對(duì)于輻射測(cè)量需要配置積分球或余弦輻射探頭或視場(chǎng)角鏡頭進(jìn)行輻射通量μW、輻亮度μW/cm²/sr、輻照度μW/cm²（光譜儀帶積分球或余弦輻射探頭或視場(chǎng)角鏡頭輻射標(biāo)定溯源到NIM）。

拉曼測(cè)量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識(shí)別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強(qiáng)得多，拉曼光譜儀通常測(cè)定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測(cè)量相對(duì)熒光信號(hào)會(huì)更弱一個(gè)數(shù)量級(jí)，通常我們?cè)卺槍?duì)微弱拉曼信號(hào)測(cè)量我們要進(jìn)行表面拉曼增強(qiáng)（SERS）的方法來提高拉曼信號(hào)SERS。

萊森光學(xué)的光纖光譜儀因其極高的靈敏度和高信噪比的特點(diǎn)，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進(jìn)行對(duì)微弱光譜信號(hào)的拉曼測(cè)量應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于食品安全、化學(xué)實(shí)驗(yàn)室、生物及醫(yī)學(xué)等光學(xué)方面領(lǐng)域，研究物質(zhì)成分的判定與確認(rèn)；還可以應(yīng)用于刑偵中對(duì)毒品的檢測(cè)及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。

 顏色測(cè)量

輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標(biāo)準(zhǔn)。輻射測(cè)量一般要通過已知光譜能量分布的標(biāo)準(zhǔn)光源，對(duì)光譜儀系統(tǒng)進(jìn)行絕對(duì)輻射標(biāo)定，才能通過量化參數(shù)進(jìn)行輻射測(cè)量。輻射能量與人眼視覺相關(guān)聯(lián)（光度學(xué)），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測(cè)者平均視覺的光譜發(fā)光效率函數(shù)。因此輻射測(cè)量定義輻射度學(xué)參數(shù)、光度學(xué)參數(shù)、色度學(xué)參數(shù)。輻射度學(xué)參數(shù)主要以輻照度μW/cm²、輻亮度μWatt/sr、輻射通量μWatt以及光子數(shù)μMol/s/m²，μMol/m²，μMol/s和μMol，光度學(xué)參數(shù)流明Lumens、光照度Lux、光強(qiáng)度Candela，色度學(xué)參數(shù)X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數(shù)等。

 輻照度測(cè)量

 色度測(cè)量

光譜儀測(cè)量吸光度的方法是將某一波長(zhǎng)的平行光通過一塊平面平行物體，對(duì)透過物體的光束進(jìn)行檢測(cè)。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測(cè)的入射光的強(qiáng)度要高于透過樣品的光強(qiáng)。吸光度被廣泛運(yùn)用于液體和氣體的光譜測(cè)量技術(shù)中，可以對(duì)物質(zhì)進(jìn)行定量鑒別或指紋認(rèn)證等，還可以將該應(yīng)用集成到工業(yè)應(yīng)用環(huán)境和客戶所關(guān)注的測(cè)試中。

使用萊森光學(xué)模塊化光譜儀，可針對(duì)特定的吸光度測(cè)量來選擇不同波長(zhǎng)范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實(shí)驗(yàn)室或者現(xiàn)場(chǎng)，對(duì)整套光學(xué)測(cè)量裝置進(jìn)行快速配置。可以基于萊森光學(xué)優(yōu)質(zhì)的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進(jìn)行靈活易用的搭配，針對(duì)不同的吸光度試驗(yàn)搭配出多種配置選擇。

 液體吸光度

 氣體吸光度

薄膜測(cè)量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來確定光學(xué)薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數(shù)學(xué)函數(shù)被計(jì)算出薄膜厚度。對(duì)于單層膜，若已知薄膜介質(zhì)的n和k值即可計(jì)算出它的物理厚度。測(cè)量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達(dá)1 nm。薄膜測(cè)量應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片生產(chǎn)工業(yè)，此時(shí)需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測(cè)量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領(lǐng)域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。

隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對(duì)材料本身特性的質(zhì)量控制愈加嚴(yán)格，利用光纖光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的透/反射光譜的測(cè)量技術(shù)也日益成熟。透/反射光譜測(cè)量是光譜測(cè)量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測(cè)量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測(cè)量軟件等設(shè)備。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。

光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學(xué)的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開發(fā)，配件豐富等特點(diǎn)，已經(jīng)成功的廣泛應(yīng)用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測(cè)試。萊森光學(xué)為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測(cè)量設(shè)備，利用這些配置豐富的設(shè)備，即可搭建各種常見的光譜測(cè)量系統(tǒng)。

 反射測(cè)量

 透射測(cè)量

熒光物質(zhì)在特定波長(zhǎng)的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射。熒光光譜測(cè)量靈敏度高、選擇性強(qiáng)、樣品用量少、方法簡(jiǎn)便且具備環(huán)保性，具有如上諸多優(yōu)點(diǎn)，所以在工程應(yīng)用中有著廣泛的應(yīng)用，如在食品加工過程中用于食品安全的監(jiān)測(cè)、生物醫(yī)學(xué)中用于病變的熒光診斷、地質(zhì)學(xué)中用于石油礦物勘探、土壤礦物成分的測(cè)定以及物質(zhì)中微量元素的檢測(cè)等等。

熒光光譜測(cè)量通常需要高靈敏度的光譜儀。對(duì)于大多數(shù)熒光應(yīng)用來說，產(chǎn)生的熒光能量只相當(dāng)于激發(fā)光能量的3%左右。熒光的光子能量比激發(fā)光的光子能量小，波長(zhǎng)長(zhǎng)，而且一般都是在各個(gè)方向上輻射能量的散射光。萊森光學(xué)光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長(zhǎng)范圍和分辨率設(shè)計(jì)，使客戶能根據(jù)自己的需求配置自由搭配適合參數(shù)的熒光測(cè)量系統(tǒng)。