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iSpec-R100顯微球面反射率測量光譜儀是萊森光學(xué)(LiSen Optics)專門針對全波長顯微球面光學(xué)元件表面反射率測量的最新產(chǎn)品,適用范圍廣,除了能夠快速且精確的測量各種光學(xué)元件及光學(xué)材料、球面與非球面產(chǎn)品(包括平面鏡片)的相對及絕對反射率,還可以選配增加光學(xué)元件的折射率進行分析。
其測試原理:光源經(jīng)過平行光路準直后,被分光裝置A反射并聚焦在測試樣品表面。測試樣品的反射光透過分光裝置B到達相機鏡頭,形成清晰的光斑用于對焦。分光裝置B收集反射光的光譜值,經(jīng)由電腦軟件分析后計算出測試樣品的反射率。
使用高景深相機成像,實現(xiàn)被測區(qū)域可視化
配備電機實現(xiàn)軟件光斑聚焦調(diào)節(jié)
載物臺可在XY軸移動和R方向旋轉(zhuǎn)
可進行微小區(qū)域測量,支持多個物鏡,最小測量區(qū)域為60μm
具有曲線校正功能和單層光學(xué)膜厚計算
提供完整的數(shù)據(jù)存儲和報告功能
采用高性能光譜探測器和穩(wěn)定的測試光源
球面、非球面及平面光學(xué)元器件的反射率測試
微小物體反射、反射顏色率測量
濾光片、有機材料、膜材料、鍍膜片的反射率檢測
眼鏡片的鍍膜測量
單層膜的厚度測定
iSpec-R100顯微球面反射率測量光譜儀是萊森光學(xué)(LiSen Optics)專門針對全波長顯微球面光學(xué)元件表面反射率測量的最新產(chǎn)品,適用范圍廣,除了能夠快速且精確的測量各種光學(xué)元件及光學(xué)材料、球面與非球面產(chǎn)品(包括平面鏡片)的相對及絕對反射率,還可以選配增加光學(xué)元件的折射率進行分析。
其測試原理:光源經(jīng)過平行光路準直后,被分光裝置A反射并聚焦在測試樣品表面。測試樣品的反射光透過分光裝置B到達相機鏡頭,形成清晰的光斑用于對焦。分光裝置B收集反射光的光譜值,經(jīng)由電腦軟件分析后計算出測試樣品的反射率。
使用高景深相機成像,實現(xiàn)被測區(qū)域可視化
配備電機實現(xiàn)軟件光斑聚焦調(diào)節(jié)
載物臺可在XY軸移動和R方向旋轉(zhuǎn)
可進行微小區(qū)域測量,支持多個物鏡,最小測量區(qū)域為60μm
具有曲線校正功能和單層光學(xué)膜厚計算
提供完整的數(shù)據(jù)存儲和報告功能
采用高性能光譜探測器和穩(wěn)定的測試光源
球面、非球面及平面光學(xué)元器件的反射率測試
微小物體反射、反射顏色率測量
濾光片、有機材料、膜材料、鍍膜片的反射率檢測
眼鏡片的鍍膜測量
單層膜的厚度測定