iSpecEQE電致發(fā)光量子效率光譜系統(tǒng)是萊森光學(xué)（LiSen Optics）綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員，可專門針對發(fā)光器件的光電特性進行有效測量。系統(tǒng)搭配包括光譜儀、帶輻射校準(zhǔn)光源積分球、電流源表、探針臺、光纖及治具等。光譜儀具有信噪比高、雜散光低，動態(tài)范圍大等特性，適合不同波段和強度的激發(fā)光和發(fā)射光測量，可確保測量結(jié)果得準(zhǔn)確性。同時，系統(tǒng)配有強大的專用測試軟件，操作邏輯簡單，測試過程迅速。

 iSpecEQE電致發(fā)光量子效率光譜系統(tǒng)能夠以高檢測精度對電致發(fā)光器件進行縱深測量，得到全面的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；同時該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流、電壓和相對亮度進行測試）。在生物熒光標(biāo)記、太陽能電池、光催化、化學(xué)分析、食品檢測及活體成像等領(lǐng)域具有巨大的潛在應(yīng)用價值。

電致發(fā)光（Electroluminescent，簡稱EL），是通過加在兩電極的電壓產(chǎn)生電場，被電場激發(fā)的電子碰擊發(fā)光中心，而引致電子在能級間的躍遷、變化、復(fù)合導(dǎo)致發(fā)光的一種物理現(xiàn)象。由于電致發(fā)光產(chǎn)品具有發(fā)光效率高、器件壽命長、響應(yīng)速度快、視角特性好、色彩度強、成本價格低、可彎曲等特點，在顯示器和照明領(lǐng)域有非常廣闊的應(yīng)用前景。

決定電致發(fā)光產(chǎn)品性能是否優(yōu)良的，就是電致發(fā)光器件了。我們常說到的OLED、QLED都屬于這類器件。它們主要包括五層結(jié)構(gòu)：陰極、電子傳遞層、發(fā)光層、空穴傳遞層和陽極。其中發(fā)光層的材料稱為電致發(fā)光材料，OLED器件的發(fā)光層為有機分子材料，QLED器件的發(fā)光層為量子點材料。

電致發(fā)光器件結(jié)構(gòu)示意

電致發(fā)光器件的EQE（外量子效率）值是決定器件封裝以后光效的重要參數(shù)之一，也是真正決定電致發(fā)光器件是否能夠商業(yè)化的重要參數(shù)之一。無論對于顯示器還是照明，從電能轉(zhuǎn)化為光能的發(fā)光效率都非常重要，其主要反映了輸入功率的利用率。發(fā)光效率越高，器件的熱損耗越小，能量利用率越高。在電致發(fā)光器件的研究中，對應(yīng)的參數(shù)則為外量子效率（EQE，External Quantum Efficiency）。

現(xiàn)在普遍的EQE測量方法有兩種，第一種是通過亮度計測量法線方向的亮度，通過標(biāo)準(zhǔn)朗伯體分布理論計算得到器件的EQE值。該方法有嚴(yán)重的缺點：實際中器件的朗伯體分布并非標(biāo)準(zhǔn)的余弦分布，會有部分分布不均的現(xiàn)象，此時通過理論計算的結(jié)果會非常不準(zhǔn)確。

光分布法測試值（實心點）與朗伯體預(yù)測值（空心點）的區(qū)別

第二種EQE的測量方法是通過積分球配件，將器件的整體光通量收集，并通過計算得到器件的EQE。該方法又有兩種測量方案，一種是將器件至于積分球球壁上，僅測量器件的前向通量，稱為2π法；一種是將器件置于積分球內(nèi)部，測量器件的整體通量，稱為4π法。

積分球法EQE測試結(jié)果實例——四種顏色的OLED電致發(fā)光器

 無機/有機電致發(fā)光

 分子薄膜EL器件

 AIE（聚集誘導(dǎo)發(fā)光）材料

 量子點發(fā)光二極管(QLED)、有機發(fā)光二極管(OLED)、發(fā)光二極管(LED)、鈣鈦礦發(fā)光二極管(PeLED)等其它各種類型的電致發(fā)光器件

 原位測量：可放至手套箱內(nèi)，實現(xiàn)原位測量

 結(jié)構(gòu)穩(wěn)定：設(shè)備無需頻繁校準(zhǔn)

 專業(yè)軟件：功能豐富，操作簡單，測試迅速

 光譜儀：系統(tǒng)采用制冷型CCD信噪比高、靈敏度高、測量精度高

LS-EQE-AS-SZPT01治具整體寬度為62mm，長度為70mm，厚度為23.2mm。該治具觸點更換為彈片形式，增大接觸面積，所測試的是鈣鈦礦芯片，該樣發(fā)光區(qū)域為2mm*2mm，樣品品芯片的外封裝玻璃片尺寸為20mm*15mm，有6個電極，電極分布最左邊是正極（或負(fù)極），其他幾個為負(fù)極（或正極），定制專用電路板點亮所要測試的芯片樣品，該治具上方的2個孔型結(jié)構(gòu)可以起到固定的作用，用來安裝在電致發(fā)光量子效率系統(tǒng)里面進行測試。

該治具主要針對鈣鈦礦材料可以用于光伏領(lǐng)域，半導(dǎo)體器件領(lǐng)域，光催化領(lǐng)域，還有其他電子器件領(lǐng)域，如傳感器，場效應(yīng)晶體管（FET）。

LS-EQE-AS-SZPT02治具整體高度為70.8mm，有一個直徑70mm，高度為10mm的底座，同時在治具的上方有一個螺絲，可以通過旋轉(zhuǎn)螺絲對要測試的芯片樣品進行高度的調(diào)節(jié)，滿足不同高度的需求。該治具測試的芯片樣品與LS-EQE-AS-SZPT01治具一樣，測試的是鈣鈦礦芯片，該樣發(fā)光區(qū)域為2mm*2mm，品芯片的外封裝玻璃片尺寸為20mm*15mm，有6個電極，電極分布最左邊是正極（或負(fù)極），其他幾個為負(fù)極（或正極），定制專用電路板點亮所要測試的芯片樣品，該治具用于垂直測量的電致發(fā)光量子效率系統(tǒng)。

該治具主要針對鈣鈦礦材料可以用于光伏領(lǐng)域，半導(dǎo)體器件領(lǐng)域，光催化領(lǐng)域，還有其他電子器件領(lǐng)域，如傳感器，場效應(yīng)晶體管（FET）。

該治具整體寬度為67mm，長度為70mm，厚度為23.2mm，該治具觸電更換為頂針形式，且更換了電路板，該治具測試的是OLED有機材料芯片，該樣品芯片的外封裝玻璃片尺寸為32.90mm*32.90mm，發(fā)光區(qū)域面積為16.4*16.4mm，有8個電極，定制專用電路通過電路板點亮所要測試的芯片，該治具上方有2個孔型結(jié)構(gòu)，可以用于治具的固定，該治具應(yīng)用于電致發(fā)光量子效率系統(tǒng)進行發(fā)光樣品測試。

該治具主要針對OLED材料可以用于移動設(shè)備領(lǐng)域，汽車顯示領(lǐng)域，數(shù)字廣告領(lǐng)域，醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域，航天航空領(lǐng)域等。